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當前位置：首頁 > 產品中心 > 可程式恒溫恒濕試驗箱 > 快溫變高低溫試驗箱 > AP-HX-150C3熱轉印標識牌高低溫試驗箱
詳細介紹
| 品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 儀器種類 | 臺式 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
| 應用領域 | 建材/家具,電子/電池,道路/軌道/船舶,包裝/造紙/印刷,紡織/印染 | 內尺寸 | 500*600*500mm |
熱轉印標識牌高低溫試驗箱是一種用于測試熱轉印標識牌在高低溫環(huán)境下的性能表現的設備。這種試驗箱通過模擬溫度條件，對標識牌進行加熱和冷卻，以評估其在不同溫度下的耐久性、穩(wěn)定性和可靠性。
作原理：該試驗箱通過內部加熱和制冷系統，實現高溫和低溫環(huán)境的模擬。標識牌被放置在試驗箱內，經過一定時間的加熱或冷卻，以測試其在不同溫度下的表現。
內容積150L
內箱尺寸 500*600*500mm (W* H *D)
外型尺寸(約) 1050*1650*1050mm (W* H *D)
重 量 約250㎏
溫度范圍 -60℃～+150 ℃ (風冷式)
降溫速率 RT～-60℃(空載)約1℃/min
升溫速率 RT～+150℃(空載)約3℃/min
溫度穩(wěn)定度 ±0.5℃
溫度解析精度 0.01℃
溫度均勻度 ＜2.0℃
溫度偏差±2℃
通過熱轉印標識牌高低溫試驗箱的測試，可以了解標識牌在不同溫度環(huán)境下的性能變化，為產品的設計、生產和應用提供重要參考。這種設備在標識牌制造、質量檢測以及產品改進等方面具有廣泛的應用價值。
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